ショットキーエミッション型
走査電子顕微鏡
| 機器名称 | ショットキーエミッション型走査電子顕微鏡 Scanning Electron Microscope |
|---|---|
| メーカー／型式 |
株式会社日立ハイテクノロジーズ／S-4300SE/N |
| 設置場所 |
九州キャンパス 2号館1F2105 |
| 仕様説明 |