粉末X線構造解析装置
（薄膜X線）
X-ray Thin-film Diffraction
| 機器名称 | 粉末X線構造解析装置（薄膜X線） X-ray Thin-film Diffraction |
|---|---|
| メーカー／型式 |
株式会社リガク／SmartLab 3KW |
| 設置場所 |
東大阪キャンパス 38号館S117 |
| 仕様説明 | 薄膜X線回折装置はX線源と測定試料を固定して薄膜部分のみに効率的にX線を照射して検出器を移動させて散乱X線を検出し結晶構造や結晶状態の情報を得ることができます。 X線散乱の原理上、金属、鉱物、セラミックス等の測定・解析に有効です。 |