| 機器名 |
メーカー・型式 |
設置場所 |
キャンパス |
| 電界放出形透過電子顕微鏡（TEM） |
日本電子株式会社／JEM-2100F |
38号館N101 |
東大阪キャンパス |
| 高分解能電界放出形走査電子顕微鏡装置（FE-SEM） |
株式会社日立ハイテクノロジーズ／S-4800 |
38号館N102 |
東大阪キャンパス |
| 低真空形走査顕微鏡（低真空SEM） |
株式会社日立ハイテクノロジーズ／SU1510 |
38号館N102 |
東大阪キャンパス |
| フィールドエミッション形電子プローブマイクロアナライザ（EPMA） |
日本電子株式会社／JXA-8530F |
38号館N118 |
東大阪キャンパス |
| イオンマイクロアナライザ（SIMS） |
アメテック株式会社／IMF-6F |
38号館N120 |
東大阪キャンパス |
| マーカス型高周波グロー放電発光表面分析装置（rf-GD-OES） |
株式会社堀場製作所／GD-Profiler2 |
38号館S118 |
東大阪キャンパス |
| 顕微レーザーラマン分光測定装置 |
株式会社堀場製作所／LabRAM HR Evolution |
38号館S118 |
東大阪キャンパス |
| X線光電子分析装置（ESCA） |
アルバック・ファイ株式会社／PHI VersaProbe 4 |
38号館N119 |
東大阪キャンパス |